장치

시험실

실험실에는 정량, 정성 및 화학 성분과 같은 전면적인 분석 요구 사항을 충족하는 장치와 도구를 충분히 마련한다.

유기 탄소의 총량 측정기-TOC

유기 탄소의 총량 측정기(TOC 측정기)는 액체 샘플 또는 물 샘플의 유기 탄소의 총량을 측정한다. 금속 표면 처리 영역의 이용에서 이 측정기가 샘플의 탄소 총량을 측정함으로 중요한 지표인 기름 제거 탱크, 물 세척 탱크 또는 기타 처리 탱크에서의 기름 오염 수준을 확인할 수 있다. 샘플의 TOC 측정 결과를 통해 사용 중에 탱크에 침입 가능한 다른 유기 불순물을 확인할 수 있다.

원자 흡수 분광 측정기-AAS

원자의 흡수 원리를 기반으로 한 측정기이다.
VPH 실험실에서 이용: 아연 (Zn), 니켈 (Ni), 망간 (Mn), 철 (Fe), 칼슘 (Ca), 구리(Cu)와 같은 화학 물질 처리 탱크에서의 금속 원소의 함량을 높은 정확성으로 확인하는데 사용된다.

스캔 전자 현미경 -SEM

스캔 전자 현미경: 전자빔을 사용해서 샘플 표면을 스캔하여 고체 샘플 표면의 고해상도 이미지를 생성할 수 있는 전자 현미경이다.
VPH에서의 전자 현미경 이용 : 인산염화 과정에서 철강 제품 표면의 미세 구조 이미지를 기록한다 (SEM 이미지)

X레이 형광 방사기-XRF

X레이 형광 방사기 (XRF): 철, 강철, 알루미늄 및 플라스틱과 같은 고체 샘플에 대해 산소에서 우라늄까지 주기율표에서 화학 원소의 정량 및 반정량의 분석에 사용된다.
VPH 실험실에서 XRF 이용: 일반 강철 표면(SPCC)의 Zn, Ni, Mn 코팅 질량 및 아연 도금 알루미늄 표면의 P, Ni, Mn 코팅 함량, 알루미늄 표면의 Zr, P, Cr 코팅의 함량을 확인한다.

pH, EC, RmV, Free Floride 측정기 등 기타 테스트 장치

테스트 및 분석을 위한 보조 장치 및 기계 시스템 : 시험 미니 라인, 자석 교반기, 절단기, 분쇄기 및 스탬핑기.